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產(chǎn)品·業(yè)務(wù)

Limit Card磁條高低軌限制測(cè)試卡

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介 Product information

驗(yàn)證測(cè)試樣品卡的磁條信號(hào)強(qiáng)度是否符合 ISO/IEC 7811 系列標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的高 coercivity（高抗磁性，HiCo）或低 coercivity（低抗磁性，LoCo）要求。測(cè)試通過(guò)專(zhuān)業(yè)的磁條測(cè)試儀，對(duì)磁條的三個(gè)軌道（Track 1, Track 2, Track 3）的信號(hào)幅度進(jìn)行測(cè)量。

結(jié)論：測(cè)試樣品磁條的平均信號(hào)幅度為 [XX]%，信號(hào)均勻性為 [XX]%，峰值偏移量為 [XX]%。所有測(cè)試指標(biāo)均符合 ISO/IEC 7811-2 & 5 標(biāo)準(zhǔn)對(duì)于 [HiCo / LoCo] 磁條的規(guī)定，判定該批次卡片磁條質(zhì)量合格/不合格。

高低軌限制定義:

低抗磁（LoCo）: 矯頑力范圍 typically 250-650 Oe。信號(hào)幅度標(biāo)準(zhǔn)范圍通常為 Track 1: 50-120mV; Track 2/3: 70-210mV。 (注：具體范圍需參照最新ISO標(biāo)準(zhǔn)或客戶要求)

高抗磁（HiCo）: 矯頑力范圍 typically 2000-4000 Oe。信號(hào)幅度標(biāo)準(zhǔn)范圍通常為 Track 1: 65-150mV; Track 2/3: 90-270mV。 (注：具體范圍需參照最新ISO標(biāo)準(zhǔn)或客戶要求)

5.3 測(cè)試流程:

設(shè)備預(yù)熱與校準(zhǔn): 開(kāi)啟測(cè)試儀，預(yù)熱15分鐘，并使用標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)卡進(jìn)行設(shè)備校準(zhǔn)。

樣品準(zhǔn)備: 清潔樣品卡磁條表面，確保無(wú)灰塵、油污。

測(cè)試執(zhí)行: 將測(cè)試卡正確插入測(cè)試儀卡槽，由設(shè)備自動(dòng)完成對(duì)三個(gè)軌道的掃描和測(cè)量。

數(shù)據(jù)記錄: 記錄每個(gè)軌道測(cè)得的以下關(guān)鍵參數(shù)：

平均信號(hào)幅度（Average Signal Amplitude）

信號(hào)均勻性（Signal Uniformity）（最小值/更大值 ≥ 規(guī)定百分比，如70%）

峰值偏移（Peak Shift）（衡量編碼質(zhì)量的時(shí)基誤差）

重復(fù)測(cè)試: 對(duì)每個(gè)樣品卡重復(fù)步驟3和4。每張卡對(duì)每個(gè)軌道測(cè)試3次，取平均值。